工信部張新生:TD-LTE終端測(cè)試仍需再加碼
11月27日,在上周召開(kāi)的由工信部電信研究院和TD技術(shù)論壇聯(lián)合主辦的“2012TD-LTE測(cè)試技術(shù)研討會(huì)”上,工業(yè)和信息化部電信管理局巡視員張新生表示,終端對(duì)整體推動(dòng)TD-LTE發(fā)展和產(chǎn)業(yè)鏈各環(huán)節(jié)健康有序進(jìn)行至關(guān)重要,而LTE終端的發(fā)展需要站在兩個(gè)制高點(diǎn)上去考慮,一個(gè)是芯片,一個(gè)是操作系統(tǒng)和應(yīng)用。
據(jù)張新生介紹,不管是TDD還是FDD,LTE終端都需要解決功耗問(wèn)題,在電源控制技術(shù)和芯片制造技術(shù)上滿足功耗的需求。“從目前看,功耗需求如果無(wú)法滿足,LTE的終端就不可能實(shí)現(xiàn)老百姓的商用,其中最重要的原因就在于,過(guò)去主要是多頻單模的手機(jī),但是現(xiàn)在為滿足LTE的發(fā)展,手機(jī)必須是全模全頻,而在全模全頻的條件下還要解決功耗問(wèn)題就變得非常重要。因此,提供全模全頻的28納米的芯片將是一個(gè)發(fā)展中的戰(zhàn)略制高點(diǎn)。”
另外,張新生指出,隨著云計(jì)算、移動(dòng)互聯(lián)網(wǎng)、物聯(lián)網(wǎng)和IPV6的發(fā)展,這將對(duì)終端提出一個(gè)更高的要求,就是不能再做功能機(jī)了,“智能終端的發(fā)展速度已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)了功能機(jī),而且隨著以終端為界面的移動(dòng)互聯(lián)網(wǎng)發(fā)展,目前智能機(jī)的發(fā)展已經(jīng)超過(guò)PC的發(fā)展。所以未來(lái)終端既是通信工具又是互聯(lián)網(wǎng)的工具,那么在互聯(lián)網(wǎng)的大前提下,它肯定要有各種應(yīng)用,也就是說(shuō)終端設(shè)備,不僅僅是要關(guān)注于硬件平臺(tái),還要關(guān)心操作系統(tǒng)和更多應(yīng)用。”
張新生表示,芯片市場(chǎng)發(fā)展迅速,未來(lái)將會(huì)有雙模或者多頻多模TD-LTE終端出現(xiàn)。而要想把這些實(shí)驗(yàn)室的產(chǎn)品推向市場(chǎng),必須要使產(chǎn)品能夠保證消費(fèi)者的權(quán)益,滿足消費(fèi)者使用過(guò)程中的質(zhì)量要求,儀表測(cè)試技術(shù)和儀器就變得非常關(guān)鍵。為此,一是需要打造良好測(cè)試環(huán)境,二是建立完善的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)體系。
“測(cè)試技術(shù)和儀表基本可以滿足當(dāng)前對(duì)系統(tǒng)設(shè)備測(cè)試的要求。”張新生認(rèn)為,“然而,對(duì)終端測(cè)試的有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和儀器儀表仍需要再加碼,這是因?yàn)橐呀K端推向市場(chǎng),必須制定出一套適應(yīng)其發(fā)展的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),按照這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測(cè)。這就靠一套能夠檢測(cè)出或者按照標(biāo)準(zhǔn)去檢測(cè)的儀器儀表。”
另外,張新生認(rèn)為,由于測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)和價(jià)格高昂,導(dǎo)致TD-SCDMA終端發(fā)展?fàn)顩r并不可觀,因此,在推動(dòng)TD-LTE終端發(fā)展時(shí),不僅要有好的測(cè)試環(huán)境、手段和條件,還要儀表企業(yè)提供速度快、價(jià)格便宜、方便的終端測(cè)試。實(shí)際上,儀表在推動(dòng)整個(gè)產(chǎn)業(yè)中起到非常重要的作用。